ETS4406-靜電衰減性能測(cè)試儀（進(jìn)口）

簡(jiǎn)要描述：美國Electro-Tech Systems, Inc.公司的ETS 4406 （406D）靜電衰減測(cè)試儀，采用充電法測(cè)試材料靜電衰減性能, 將被測(cè)試材料固定在兩試樣夾之間, 利用高壓直流電源通過試樣夾給樣品材料充電, 當(dāng)樣品材料的電位不再上升后, 試樣夾接地, 通過正對(duì)樣品材料中心的非接觸式靜電電位計(jì)測(cè)量表面電位的衰減情況.

城市：國外
廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
更新時(shí)間：2023-06-29
訪問量：6125

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產(chǎn)品介紹

品牌	其他品牌	產(chǎn)地類別	進(jìn)口
應(yīng)用領(lǐng)域	醫(yī)療衛(wèi)生

該儀器符合以下標(biāo)準(zhǔn):

美國無防布靜電衰減測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)IST40.2(01)

美國聯(lián)邦標(biāo)準(zhǔn)FED-STD-101C

美國電子工業(yè)聯(lián)合會(huì)標(biāo)準(zhǔn)EIA-541

美國消防協(xié)會(huì)NFPA99標(biāo)準(zhǔn)

英國BS7506標(biāo)準(zhǔn)

中國醫(yī)用一次性防護(hù)服標(biāo)準(zhǔn)GB 19082

主要指標(biāo):

測(cè)試材料按照 FTM Std. 101C, Method 4046

合乎靜電衰減要求：MIL-PRF-81705d,EIA-541&NFPA99

手動(dòng)和自動(dòng)設(shè)置

具備多種衰減比例選擇：50％。10％，1％

0.01 秒計(jì)時(shí)分辯率

系統(tǒng)自身測(cè)試設(shè)置

特殊電極應(yīng)對(duì)特定檢測(cè)

充電電壓： 0－5.5千伏

計(jì)時(shí)器量程：0－99.99s

顯示：指針式充電電壓表（左），指針式充電電壓表（右），數(shù)顯計(jì)時(shí)器（中），彩色led燈指示各個(gè)操作進(jìn)程。

自動(dòng)測(cè)式次數(shù)1－9次

測(cè)試間隔時(shí)間： 1－25 秒

標(biāo)準(zhǔn)配置:

4406/406d 測(cè)試主機(jī)

法拉第測(cè)試籠容器

條型夾具／樣品支架

STM-2驗(yàn)證摸塊

磁型固定電極

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